外媒报导,一项新研究指出,比起现行的产前检查,简单的抹片检查未来可望更早发现胎儿先天缺损。
底特律的韦恩州立大学研究人员2日说,他们可从妇女怀孕初期接受抹片检查的检体细胞中,找到足够的胎儿DNA,检验是否有基因异常。
这项新研究的规模相当小,还需做更多研究才能进一步证实,但如果此法奏效,研究人员说,未来妇女可早在怀孕五周时,就以非侵入性的抹片检查,确认更多基因异常状况。
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